★ガスクロマトグラフ質量分析計GC-MS: JMS-Q1500GC, JEOL |
★示差熱分析装置TG-DTA 2020SA-TK21, BRUKER |
★高温示差走査熱量計DSC404F3, NETZSCH |
★小型卓上試験機 EZTestGC-MS島津製作所, EZ-LX |
卓上遠心機日立製作所, CT6E |
斜向衝突ノズル方式・湿式微粒化装置株式会社スギノマシン, HJP-25005X |
★酸素窒素分析装置LECOジャパン合同会社, TC-436 |
★誘導加熱式 高温熱処理装置SKメディカル電子株式会社, SM-TKY2-MU-αIV |
★卓上X線回折装置マルバーン・パナリティカル事業部, Aeris Researchエディション |
★レーザーフラッシュ式熱伝導率測定装置LFA-457, NETZSCH |
★熱膨張測定装置DIL402CD, NETZSCH |
ダイナミック超微小硬度計DUH-W201, SHIMADZU |
四重極質量分析計QMS403C, NETZSCH |
熱膨張測定装置DIL402C, NETZSCH |
走査型電子顕微鏡S-3500, HITACHI |
★透過型電子顕微鏡 TEMH-9000, HITACHI |
★粉末X線回折装置PW1700, PHILIPS |
アトムビームシンニング装置806A |
高圧マイクロリアクターMMJ-300, オーエムラボテック |
イオンミリング装置Model 600, GATAN |
★電界放射型走査型電子顕微鏡
S-4800, HITACHI |
真空高温炉RI-2500EXS, 東京真空株式会社 |
グローブボックス |
フーリエ変換赤外分光光度計FT/IR-460Plus, JASCO |
イオンミリング装置 |
電気炉C204, 林電工 |
イオンスパッタ装置E-1030, 日立ハイテクノロジーズ |
オスミウムプラズマコーターOPC80TS, レーザーテクノ |
★万能材料試験機Model 1185, INSTRON |
★小型高周波誘導加熱装置
SM-TKY-MU-αW, SKメディカル電子 |
外熱式雰囲気炉 |
超音波パルサー/レシーバー5072PR, OLYMPUS |
真空高温炉MINI-VAC-U, 株式会社 東京真空 |
分光光度計ASV11D, AS ONE |
卓上多本架遠心機KN-70, KUBOTA |
★レーザ回折式粒度分布測定装置SALD-7000, SHIMADZU |
デジタル粘度計DV-E, BROOKFIELD |
高温高圧引張試験機SERT-MINI-20PT, TOSHIN KOGYO |
ソースメーター2450, KEITHLEY |
デジタルオシロスコープCOR5541, KIKUSUI |
ベンチトップオシロスコープDPO2024, TEKTRONIX |
メカニカル撹拌機POLLER6, IKA |
熱プレス機KZ-5545-03, AS ONE |
真空乾燥機AVO-200NS, AS ONE |
材料微構造評価装置LV100D, NIKON |
高級実体顕微鏡SXH-151, OLYMPUS |
真空蒸着装置JEE-4B, 日本電子 |
超音波分散機UH-600S, 株式会社SMT |
デジマイクロMF-501/MFC-101/MS-31G, NIKON |
電動型ビッカーズ硬さ試験機株式会社マツザワ, Visa-S(F) |
★ゼータ電位測定装置ZC-3000, マイクロテック・ニチオン |
★高精度ガス/蒸気吸着装置BELSORP28SA, 日本ベル |
自転公転ミキサーARE-310, THINKY |
★多目的高温炉FVPHP-R-5 Hi-Multi 5000, Fujidempa Kogyo |
真空検体乾燥器VOM-1000B, EYELA |
高温大気炉K14-20, ネムス株式会社 |
高級実体顕微鏡SZH, Olympus |
純水製造機WG250B, ヤマト科学 |
精密切断機Isomet4000, BUEHLER |
エバポレーターREN-1, IWAKI |
遊星型微粒粉砕機P-7, FRITSCH |
冷間等方圧加圧装置
PV-2K-80-70-U166, 理研精機株式会社 |
ドクターブレード装置DP-150, 津川精機製作所 |
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